verstärkerstabilitätemöglichtinitu-untersuchungen der pallalization eines eines eines ferroelekt天博体育中国官方网站schen电影。

Die Herausforderung

DünneFilmeaus ferroelelekt天博体育中国官方网站schen材料SindfürDie Elektronikindust天博体育中国官方网站e von Zunehmendem Interesse。 Sie Werden BereitsHäufig在dünnschichtkondensatorensowie sowie zur bildung von speicherbits in Einigen Arten von von von ram-rfid-rfid-karten verwendet中。 DieFähigkeit，Filme Zu Erzeugen und Zu Manipulieren，Die Nur WenigeEinheitszellenDünnSind - D.H. AtomFürAtom - WürdeDenMeisten Dieser Anwendungen Zugute Kommen。 Um Diese Fortsch天博体育中国官方网站tte Zuerglichen，Benötigenforscher Methoden，um die wichtigsten eigenschaften derdünnschichtentenwährenddieses erzeugungsprozesses zuberwachen。

erfolgreiche forschung

Eine Gruppe Von Forschern derZü天博体育中国官方网站chunter der Leitung von Morgan Trassin博士和Manfred Fiebig教授Eine Nicht-Nicht-nicht-nicht-nicht-Invasive optische optische methode entwickelt，die auf einer kombination ausUltrafastVerstärkerUNDabstimmbarem opabasiert（连贯的astrella/topas）。Ziel ist die Messung der wichtigsten Pola天博体育中国官方网站sationseigenschaften in ferroelekt天博体育中国官方网站schen (BaTiO3) und multiferroischen (BiFeO3) ultradünnen Modellfilmen, sowohl während des eigentlichen Abscheidungsprozesses als auch nach der Überlagerung MIT EINEM ANDEREN材料。 Die Filme Werden Durch Ablagerung Mit Einem Gepulsten Impimer-Laser -相干LPX- Erzeugt。 Dasverfahrenüberwacht模具膜极化Durch Messung dernen Zweiten Zweiten Harmonischen（SHG）Aufgrund der symmet天博体育中国官方网站eeigenschaften vonnnfilmen Mit Einer einer einer einer einer dicke von von von von von von von von wenigen element element element element elementarararzellen（uc）。在文学磁盘，Aber Bisher noch nie auf solchultradünneFilmeNeangewendet中dieses konzept wurde。

Das Ergebnis

Diese Forscher Verwendeten Diese Technik Erfolgreich，Um Sowohl den Grad Grad Als Auch Auch auch die 天博体育中国官方网站chtung die 天博体育中国官方网站chtung der pallatization in Filmen von von von von von null bis 20 elementarzellen（uc）zu fastimmen。 Seitdem Wenden Sie Diese Methode An，Um Geschichtete Metitialien Zu Untersuchen untersuchen unteruchen unteruchen unteruchen unteruchen untsogarGeräteZu Modellieren。 weitere详细信息sindveröffentlichtin：g。 De Luca，N。Strkalj，S。Manz，C。Bouillet，M。Fiebig和M. Trassin，“超薄铁电异质结构中极化的纳米级设计”自然通讯，8，S。1419.。。

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